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致力于光網絡測試、光芯片測試、電性能測試和功率芯片測試四大領域測試儀器和設備的開發(fā)，并提供高端測試硬件及軟件系統(tǒng)整體解決方案。
光通信網絡作為信息通信的基礎設施，對我國大數據、云計算、5G通信等市場的快速發(fā)展起重要的承載支撐作用，聯(lián)訊儀器光通訊儀表深度覆蓋光模塊光器件等核心產品的測試測量，包括采樣示波器，誤碼儀，波長計，光譜儀，流量儀以及通用光測量儀表等，提供經濟高效的完整解決方案。
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高精度源表集合電壓源、電流源、電壓表、電流表、電子負載的功能于一身，廣泛應用于各類分立元器件，光伏，新能源，電池等行業(yè)的高精度測試測量，聯(lián)訊儀器提供高精度的臺式源表及標準PXIe機箱的插卡式PXIe源表模塊，充分滿足各種不同測試場景的應用。
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激光器的老化及測試是保障激光器可靠性的重要方法，通過對CoC或者裸Die的測試，提早篩選出激光器生產過程中由于工藝工序的缺陷導致的早期失效產品。聯(lián)訊儀器提供從裸Die到CoC，從高溫到低溫-40℃的完整解決方案。聯(lián)訊儀器的激光芯片老化測試方案已獲得市場廣泛認可。
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半導體前道檢測主要用于晶圓加工環(huán)節(jié)，目的是檢查每一步制造工藝后晶圓產品的加工參數是否達到設計的要求或者存在影響良率的缺陷，半導體后道測試設備主要是用在晶圓加工之后、封裝測試環(huán)節(jié)內，目的是檢查芯片的性能是否符合要求，屬于電性能的檢測。聯(lián)訊儀器提供晶圓老化及半導體參數測試機等集成解決方案，打破了國外企業(yè)的長期壟斷，不斷提升國產半導體設備的進口替代率。
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Solution
解決方案
致力于光網絡測試、光芯片測試、電性能測試和功率芯片測試四大領域測試儀器和設備的開發(fā)，并提供高端測試硬件及軟件系統(tǒng)整體解決方案。
蘇州聯(lián)訊儀器成立于2017年，由一批從事光通信和半導體測試技術研究多年的高級專家創(chuàng)辦，致力于光網絡測試、光芯片測試、電性能測試和功率芯片測試四大領域測試儀器和設備的開發(fā)，并提供高端測試硬件及軟件系統(tǒng)整體解決方案。公司可以提供包括寬帶采樣示波器、高速誤碼儀、網絡流量測試儀、高精度快速波長計、精密數字源表、低泄漏矩陣開關等高端測試儀器，以及高速光電混合ATE、半導體激光器CoC老化、裸Die芯片測試、硅光晶圓測試、SiC晶圓老化、SiC裸Die 功率芯片KGD測試分選、WAT晶圓允收測試系統(tǒng)、WLR/PLR可靠性測試系統(tǒng)等高端測試設備。
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技術創(chuàng)新 -
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